日経産業新聞に松谷研がJST CREST「人工知能」で研究開発しているオンデバイス学習に関する成果が紹介されました。松谷研M2塚田君、M1井坪君の研究成果です。
- 日経産業新聞, “工場監視AI、数分間で学習 慶大、専用チップ実用化目指す”, 2019年10月17日, 5面.
Matsutani Lab
Department of Information and Computer Science, Keio University
日経産業新聞に松谷研がJST CREST「人工知能」で研究開発しているオンデバイス学習に関する成果が紹介されました。松谷研M2塚田君、M1井坪君の研究成果です。